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當前位置:儀器網 > 產品中心 > 光學儀器及設備>電子顯微鏡>掃描探針顯微鏡SPM(原子力顯微鏡AFM、掃描隧道顯微鏡STM)> 日本島津可控氣氛掃描探針顯微鏡WET-SPM系列
微機差熱天平PRT-2A1A
微機差熱天平WCT-2C1C
光電霧度計液晶數顯WG
全譜CCD等離子體光譜
日本島津FTIR用紅外顯
日本島津高頻等離子體
本公司*經營實驗分析儀器耗材,價格實惠,質量有保證。詳細價格請咨詢在線人員。請直接與我們。 訂貨139_17814677
規格:型號齊全,*價格:價優,歡迎詢價可進行氣氛控制下的SPM觀察。可控制全體周圍環境,通過大型觀察孔和一雙操作手套,可自由地在分析室內部進行前處理。作為in-Situ SPM可追蹤使溫度、濕度、壓力、光量、濃度等發生變化時的樣品變化。→手套孔 2個(兩軸)→泵 旋轉泵 渦輪分子泵(選配)→減振機構 內裝空氣彈簧式減振臺
DimensionFastScan原
布魯克nanoIRAFM紅外
布魯克BioScopeResolv
Dimension-Edge-掃描
掃描探針顯微系統(超
SPM-8000FM型高分辨原
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