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簡介：低價格的小型LD干涉儀。用于多種少量的小型鏡片的生產現場上的快速品質檢查。通過簡單操作來進行檢查。

簡介：低價格的小型LD干涉儀。手掌大小、操作簡便。只要放置被檢鏡片，便可簡單迅速地進行測定。

簡介：透過波面測定干涉儀KIF-PU是解析光學部品的透過波面像差的干涉儀系統。特別在光讀取頭用的生產線中，是評價對物透鏡以及準直透鏡的透過波面的系統。

簡介：應用了KIF-10A，用于測量光圈數目的測定儀。通過光圈數目與元器的比較，可簡單地短時間內進行測定。因采用非接觸的測定方式，不用擔心會破壞鏡片面以及元器。是在制造現場的工序測定中*的新檢測工具。

簡介：使用在生產制造顯微鏡·光學拾波等過程中培育的小口徑測量技術，開發而來的使用簡單小型干涉儀。

簡介：安裝在KIF-202/KIF-402系列干涉儀上，通過條紋掃描方式取得被測物的波面相位并顯示且保存測定結果的干涉條紋解析系統。用于*以及生產現場中對平面以及球面的面精度進行定量評價。

簡介：干涉條紋數值化配套元件KIF-FS10A，是指將從干涉儀系統KIF-10A系列的干涉條紋得出的像差數值化顯示的系統。

簡介：一次安裝能夠同時測量線性軸的六個誤差，包括1個位置度誤差、2個直線度誤差、3個角度誤差。在通常情況下需要數天時間進行的測試，使用API激光干涉儀只需幾個小時即可完成，實際應用結果表明，節省時間可達...

簡介：Renishaw提供品種繁多的精密光柵測量系統，包括高速直線光柵、平面光柵和圓光柵。可以應用于三坐標測量機、運動系統、電子設備、半導體加工設備、醫療設備、掃描/印刷、科學儀器、超高精度機器和裝置、...

簡介：由德國JENAer公司生產的微位移測量激光干涉ZLM800儀，主要用于微位移部件的測量，角度變化量的監測，運動平臺變化量的檢測，及光刻機幾何量的測量，數控機床幾何量的測量等。