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Dimension-Fastscan Dimension-Fastscan

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掃描速度的全新詮釋,擁有zui高的掃描分辨率,*異的儀器檢測性能
Dimension FastScanTM原子力顯微鏡(Atomic Force Microscope,AFM),在不損失Dimension® Icon®超高的分辨率和的儀器性能前提下,zui大限度的提高了成像速度。這項突破性的技術創新,從根本上解決了AFM成像速度慢的難題,大大縮短了各技術水平的AFM用戶獲得數據的時間。

詳細信息 在線詢價

高效率   

 

在空氣或液體中成像速度是原來速度的100倍,自動激光調節    和檢測器調節,智能進針,大大縮短了實驗時間。 

自動測量軟件和高速掃描系統*結合,大幅提高了實驗數據  的可信度和可重復性。 

高分辨率      

Fastscan精確的力控制模式提高圖像分辨率的同時,延長了探針的使用壽命。 

掃描速度20Hz時仍能獲得高質量的TappingModeTM圖像,掃描速度6Hz仍能獲得高質量的ScanAsyst圖像。 

低噪音,溫度補償傳感器展現出亞埃級的噪音水平。 

在任何樣品上均有表現 

閉環控制的Icon和FastScan的掃描管*地降低了Z方向噪音,使它們Z方向的噪音水平分別低于30pm和40 pm,具有超低的熱漂移率,可得到超高分辨的真實圖像。 

Fast Scan可以對不同樣品進行測量,保證高度從埃級到100多納米的樣品高精度無失真掃描。 

DimensionFastScan

   AFM掃描速度的定義

 

   Dimension Fastscan是世界上*臺將掃描速度、分辨率、精確度和噪音控制*結合的AFM,真正實現了快速掃描原子力顯微鏡的商業化應用。為了實現AFM掃描速度變革性的提升,Bruker的工程師致力于AFM技術的改造和完善。

 

■采用zui低熱漂移的針尖掃描AFM技術,提高了系統的固有振動頻率。

■應用新的NanoScope控制器,為機器提供了更高的帶寬。

■開發了小懸臂的生產工藝,在空氣中共振頻率為1.3MHz,在液體中共振頻率為250KHz到500KHz。

■采用了低噪音的機械和電子的主要部件,結合高共振頻率X-Y-Z掃描管,在技術上獲得了重大突破。

 

■更高的帶寬提供了精確的力控制和高掃描速度,結合高精度的閉環控制,在效率上遠遠高于其它任何商業化的AFM。

■以20Hz掃描速度進行TappingMode成像得到的圖片的分辨率和以1Hz掃描速度得到的圖片的分辨率一樣高,即使使用更高的掃描速度>100Hz,圖像分辨率同樣不會降低。

■在ScanAsyst模式中,使用6Hz的掃描速度可以得到高分辨率的圖片,即使掃描速度達到32Hz同樣可以得到普通分辨率的圖片。

■Z方向,探針在Contact模式中移動速度可達到12mm/s,同時在閉環工作中X-Y方向的移動速度達到2.5mm/s, X-Y方向的跟蹤誤差<1%,真正使Fastscan成為了世界上*臺快速掃描AFM。

■ 自動的激光和檢測器的調節使得實驗的組建更為快速有效。

■ 系統使用自帶的樣品導航軟件MIRO,利用光學成像系統能夠在幾分鐘之內分辨并抓取納米級的樣品特征。

的光學系統可以使用任何Bruker的探針,在不降低系統穩定性的前提下,得到的激光信號調節。

■ 針尖掃描系統的設計與210mm大尺寸樣品臺結合,消除了樣品尺寸的限制,同時維持了zui低的噪音和熱漂移水平


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