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雙折射測量儀PA-Micro

參考價面議
具體成交價以合同協議為準
  • 公司名稱 北京歐屹科技有限公司
  • 品牌
  • 型號
  • 所在地 北京市
  • 廠商性質 代理商
  • 更新時間 2020/12/23 9:51:58
  • 訪問次數 1716

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雙折射測量儀PA-Micro是日本Photonic lattice公司傾力打造的雙折射/應力測量儀,PA系列測量雙折射測量范圍達0-130nm,可以測量的樣品范圍從幾個毫米到近500毫米。PA系列雙折射測量儀以其技術的光子晶體偏光陣列片,*的雙折射算法設計制造,得到每片樣品僅需幾秒鐘的測量能力,使其成為業內,特別是工業界雙折射測量/應力測量的選擇。

詳細信息 在線詢價

雙折射測量儀PA-Micro主要特點:

  • 操作簡單,測量速度可以快到3秒。
  • 視野范圍內可一次測量,測量范圍廣。
  • 更直觀的全面讀取數據,無遺漏數據點。
  • 具有多種分析功能和測量結果的比較。
  • 維護簡單,不含旋轉光學濾片的機構。
  • 高達2056x2464像素的偏振相機。


雙折射測量儀PA-Micro應用領域:

  • 通信光纖
  • 晶體
  • 醫學細胞


技術參數:

    項次

           項目            

具體參數

1

輸出項目

          相位差【nm】,軸方向【°】,相位差與應力換算(選配)【MPa

 

2

測量波長

520nm

 

3

雙折射測量范圍

0-130nm

 

4

測量小分辨率

0.001nm

 

5

測量重復精度

<1nm(西格瑪)

 

6

視野尺寸

142x170um3.5x4.2mm
(×2,×5,×10,×20,×50)

 

7

選配鏡頭視野

 

8

選配功能    

            實時解析軟件,鏡片解析軟件,數據處理軟件,實現外部控制

 

北京歐屹科技有限公司

|

手機:17600738803

聯系人:王新波

電話:86-010-51528178

傳真:86--

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