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MVP - 自動光學檢測系統

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美國 MVP
自動光學檢測(AOI)系統
美國安維譜有限公司(MVP)是一個性的AOI公司,在該領域持續服務達二十年,在各地都擁有技術支持團隊。MVP的使命是向電子和半導體制造商提供的自動光學檢測和制程控制技術。MVP一貫采用創新性的解決方案,的技術需求,幫助我們的客的AOI平臺提高他們的業務。 MVP的軟件工具,容易使用且不降低檢測性能。并*地為我們的客戶提供靈活性,部署系統在新產品引進、小批量、高混合或高產量生產環境。

 

 

主要型號:

 

Ultra 850G系列:

花崗巖平臺的微電子和半導體測試系統。BGA和BUMP檢測、線焊、3D測算、環氧樹脂助焊劑、DIE放置精度和表面光潔度檢測。

檢測速度:
• 每小時檢測可達到20,000個芯片
• 高速3D激光高度計算

系統硬件:
• 的 “飛行”圖像采集技術
• 程序控制不同的LED燈光
• 3D技術,精度2到4微米
• 視場范圍分辨率1-25微米/像素
• 可檢測0201和01005
• 檢測范圍355 x 355mm

Spectra 系列:

SPECTRA系列主要針對大規格的板子的生產線。MVP的飛行檢測平臺組合了三色光技術,擁有快速的測周期時間,同時提高了檢測能力。

• 標準的大規格系統24” x 24”
• 大板子處理能力達 24 “x 36”
• 靈活的,可靠的及堅固耐用的AOI
• 較低的成本優勢
• 屢獲殊榮的易用型iPro 軟件
• 可選3D錫膏檢測功能
• 的性能及產量能力

Ultra 系列:

ULTRA系列的三色光技術使用多角度燈光來確定每個元件及引角的不同特征,進而通過單一的圖相來檢測所有特征。

• 標準的大規格系統 20” x 20”
• 大板子處理能力達 20” x 30”
• 靈活的, 可靠的及堅固耐用的AOI
• 較低的成本優勢
• 易用型ePro 軟件
• 可選3D錫膏檢測功能

Supra E系列:

作為標準配置的SUPRA E系列,使用多角度的燈光來確定每個元件及引腳的不同特征,進而通過單一的圖像來檢查所有特征。

• 高速性價比
• 可測板規規格達: 20” x 30”
• 2D錫膏檢測功能
• 可選雙軌與三色光
• 可用于錫膏印刷后,回流焊后
• 高處理能力的500萬像素照相機和四個角度不同燈光
• 可01005檢測能力
• 有助拓寬缺陷覆蓋率,并降低誤報

 

易用型編程軟件工具

 

MVP的Auto Trainer允許離線完成AOI設備的編程。 Auto Trainer支持使用ePro編程向導離線生成程式。使用自動優化(Auto-Optiize)向導可以離線微調和程式優化,使對AOI的覆蓋率和缺陷偵測率有較高的性能和信心。

Validate
驗證缺陷的覆覆蓋率自動
微調參數自動優化程序

ePro
快速生成檢測程序*缺陷
覆沒技術員級可勝任編程

 

芯片放置精度,
表面潔度及劃痕

焊線檢測

3D BGA. Bump
和錫膏檢測

Epoxy以及底部
填充物檢測

附加檢測能力

 


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