基于光纖的共軸偏振儀 波長范圍： 1510至1640納米 插入損耗： <1.1 dB 動態范圍： 45 dB （-30 dBm到15 dBm） 高采樣率: 每秒一百萬 的精確度： ?.25?在邦加球上

介紹

IPM5300是光纖光學偏振儀，用于偏振態的高速測量。共軸光纖設計使得插入損耗可以小于 1.1 dB，動態范圍達到45dB，邦加球上的精確度達到±0.25°，并且其采樣率每秒可以高達一百萬次*的偏振態測量。所有的光纖偏振儀都是基于擁有權的光纖布拉格光柵（FBG）技術。共軸偏振測量，低插入損耗，高采樣率和高精確度的創新性結合，開創性地在光纖光學應用中實現了偏振態的測量。更多信息請參考操作標簽。

IPM5300應用

• 高達每秒一百萬次的偏振態測量
• 用于主動偏振模式色散補償的高速偏振態測量
• 用于自動偏振控制的高速反饋

操作模式

表征偏振態的所有四個Stokes數值，都可以以模擬輸出電壓或者數字信號的形式輸入到電腦中。通過允許IPM5300與其它裝置同步化的外部觸發功能可以控制偏振態的測量。高達1 MHz的更新率滿足全面的偏振態測量。

模塊化設計

IPM5300 是基于Thorlab的TXP5000模塊測試和測量系統，并且可以在電腦上通過簡單的圖形用戶界面進行控制（參見用戶界面標簽）。它提供了額外的特性例如USB/以太網端口，和其他模塊的即插即用功能，并且可以通過LabVIEW™，LabWindows/ CVI™，MSVC和Borland C驅動實現靈活的配置。