原子力顯微鏡/掃描探針顯微鏡

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公司名稱 北京超越世界科技發展有限公司
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廠商性質其他
更新時間 2021/6/22 10:51:38
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2020年01月08日至 2020年02月08日

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模內澆口分離自動化，降低對人的依賴度；傳統的塑膠模具開模后產品與澆口相連，需二道工序進行人工剪切分離，模內熱切模具將澆口分離提前至開模前，消除后續工序，有利于生產自動化，降低對人的依賴。

產品簡介

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原子力顯微鏡（AFM）是在樣品表面用微小的探針進行掃描，通過高倍率觀察三維形貌和局部物理特性的顯微鏡總稱

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原子力顯微鏡（AFM）是在樣品表面用微小的探針進行掃描，通過高倍率觀察三維形貌和局部物理特性的顯微鏡總稱。SPM-9700HT更是性能高、速度快、操作簡單的新一代掃描探針顯微鏡。

新開發的可快速響應的HT掃描器加之軟件與控制系統設計的優化，成功實現掃描速度比傳統設備快5倍以上。

樣品交換時也可保持激光穩定照射懸臂。照射穩定性優異，分析時間也大幅度縮短。

可從不同角度放大拉伸圖像進行確認。鼠標操作簡單，更可進行3D斷面形狀分析。

按照操作指南指導操作順序，使用導航功能直接鎖定觀察位置，實現了SPM的快速簡便的觀察

具備豐富的測定模式和優異的擴展性，可對不同硬度、不同導電性能等各式樣品進行觀察分析。

控制氣氛掃描探針顯微鏡 WET-SPM
可以控制樣品和周邊環境，在可控氣氛下進行樣品處理，并直接進行SPM觀察。

選配系統具有溫度濕度控制單元、樣品加熱冷卻單元、樣品加熱單元、吹起單元。

粒度分析軟件
從圖像數據中選取復數顆粒，對每一顆粒進行特征量的計算，并進行分析、顯示，以及及進行統計處理。

超微小硬度計復合型SPM系統SPM+TriboScope（TriboScope為美國Hysitron公司產品）可以進行極薄膜的硬度試驗和壓痕試驗。
微小部熱分析試驗儀器復合型SPM系統 SPM+nano-TA2（nano-TA2為Anasys Instruments公司產品）可以進行樣品表面的三維形貌觀察和點的熱分析。

觀察模式	標準	接觸模式動態模式相位模式水平力模式（LFM）力調制模式矢量掃描模式
觀察模式	選購件	磁力（MFM）模式）電流模式表面電位（KFM）模式
分辨率	XY	0.2 nm
分辨率	Z	0.01 nm
AFM頭部	位移監測系統	光源/光杠桿/檢測器
	光源	激光二極管（On/Off均可）更換樣品無需調整光路
	檢測器	光敏二極管
掃描器	驅動元件	管狀壓電元件
掃描器	掃描范圍（XYZ）	30μm×30μm×5μm　（標準） 125μm×125μm×7μm　（選購） 55μm×55μm×13μm　（選購） 2.5μm×2.5μm×0.3μm　（選購）
樣品臺	樣品形狀	φ24mm×8mm
	樣品裝載方式	頭部滑動機構懸臂安裝狀態下可直接裝載樣品
	樣品固定方式	磁性固定
Z軸驅動機構	驅近方式	全自動驅近
Z軸驅動機構	可驅近范圍	10mm
信號顯示板	顯示量	檢測器的總入射光量（數字顯示）
減震機構	減震臺	SPM單元內置
光學顯微鏡觀察	方式	分束器滑動機構
專用風擋	方式	無需或者使用氣氛控制腔體
氣氛控制	方式	無需改造SPM單元可直接導入氣氛腔體