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Thermo Scientific Apreo 2 SEM高性能場發射掃描電鏡搭載的實時元素成像功能和*的自動光學系統，實現灰色區域解析，讓您不再憂心顯微鏡性能，更加專注于研究本身。
Thermo Scientific Apreo 2 SEM具有多功能性和高質量成像性能，采用了創新性的末級透鏡設計，引入靜電式末級透鏡，支持鏡筒內高分辨率檢測，即使是針對磁性樣品也可實現成像及分析性能。全新Apreo 2 SEM在原有性能基礎之上，新一步優化了超高分辨成像能力，并且增設許多新功能提升其易用性。Apreo 2 SEM在耐用的SEM平臺上引入了SmartAlign（智能對中）技術，不再需要用戶手動進行調整操作，而且，FLASH自動執行精細調節工作，只需移動鼠標幾次，就可以完成必要的透鏡居中、消像散和聚焦矯正。此外，Apreo 2 SEM是的在10mm分析工作距離下具有1nm分辨率的SEM，遠的工作距離不再意味著低分辨成像，系統還可升級實時元素譜/圖成像功能，了幾十年來傳統SEM-EDS固有的元素分析流程，將元素分析效率提升2倍有余。 Apreo 2 SEM，任何用戶都可以輕松地得到的分析效果。發射源：高穩定型肖特基場發射電子槍
分辨率：型號 | Apreo 2 C | Apreo 2 S |
末級透鏡 | 靜電 | 復合 |
高真空 | ||
15kV | 0.9nm | 0.5nm |
1kV | 1.0nm | 0.8nm |
500V | 1.2nm | 0.8nm |
☆ 全面解析
全面的納米和亞納米分辨率性能，適用于納米顆粒、粉末、催化劑、納米器件、大塊磁性樣品等材料；
☆ 的靈活性
非常靈活的處理范圍廣泛的樣品類型，包括絕緣體，敏感材料，或磁性樣品，并收集對您的應用最重要的數據；
使用SmartAlign技術(智能調整光學系統)，實現光學系統自動調整，減少維護時間；
☆ *的自動化
*的自動化包括FLASH自動圖像微調、撤銷、用戶向導、Maps成像拼接的FLASH技術；
元素信息觸手可及，利用ColorSEM技術，提供實時元素面分布成像定量分析，結果獲取更加快速、簡便；
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