產品描述高溫SEM原位納米壓痕儀——InSEM®HT高溫測試系統可在真空環境中對壓頭和樣品分別獨立進行加熱，并與許多SEM/FIB工作室或獨立真空工作室兼容

產品描述

高溫SEM原位納米壓痕儀——InSEM^®HT高溫測試系統可在真空環境中對壓頭和樣品分別獨立進行加熱，并與許多SEM/FIB工作室或獨立真空工作室兼容。系統溫度可高達800°C，因而可以模擬現場溫度條件，以獲得可靠一致的測試數據。鉬支架上的單晶碳化鎢壓頭經過優化，可用于高溫測試應用，并可提供多種幾何形狀。

主要功能

·        InForce 50驅動器，壓頭可加熱，用于電容位移測量，并配有電磁啟動的可互換探頭

·        樣品可升溫至800^°C，采用10mm樣品尺寸和真空兼容的樣品安裝系統

·        InQuest高速控制器電子設備，具有100kHz數據采集速率和20μs時間常數

·        用于樣本定位的XYZ移動系統

·        SEM視頻捕獲，可以將SEM圖像和測試數據進行同步

·        的軟件集成壓頭校準系統，可實現快速，準確的壓頭校準

·        與Windows^®10兼容的InView控制和數據查看軟件以及協助用戶設計實驗的方法開發功能

主要應用

·        高溫測試

·        硬度和模量測量（Oliver-Pharr）

·        連續剛度測量

·        高速材料性質分布

·        蠕變測量

·        應變率靈敏度

工業應用

·        大學、研究實驗室和研究所

·        航空航天

·        汽車制造業

·        硬涂層

·        核能

·        軍事/國防