SGAM-70非接觸式錫膏測厚儀SGAM-70非接觸式錫膏測厚儀—針對FinePitch高度成長、印刷技術提升、精密度要求下之品質管理

SGAM-70 非接觸式錫膏測厚儀

SGAM-70 非接觸式錫膏測厚儀—針對Fine Pitch高度成長、印刷技術提升、精密度要求下之品質管理。

· 防止因印刷制造過程各種不良情形，例如：Bridging、印刷位置偏差及錫膏性缺失。

· 非接觸式、非破壞性量測。

· 操作簡單、快速，取得印刷性資料。

SGAM-70 非接觸式錫膏測厚儀—制程能力分析，提供SMT線上品質控管

· 錫道銅箔印刷面

SGAM-70 非接觸式錫膏測厚儀—各式厚度量測數值取得統計分析

· 量測印刷錫膏厚度、長度、高度、間距 · 提供厚度分布數值參考 · 不同截面積厚度分析 · 可計算被測物之面積、體積等資料 · 提供各種SPC統計分析圖表

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