采用三光柵單色儀和八通道濾色片分光，配合四組光性能光譜探測系統，具有低雜散光、高動態范圍、高信噪比性能，并符合CIE NO.63要求，可連續一次測量紫外-可見-紅外（200nm~3000nm）寬波段內光源的光譜功率分布及光度、輻射度參數。適合照明燈具產品及半導體發光器件LED產品的輻射安全分析。

功能：采用三光柵單色儀和八通道濾色片分光，配合四組光性能光譜探測系統，具有低雜散光、高動態范圍、高信噪比性能，并符合CIE NO.63要求，可連續一次測量紫外-可見-紅外（200nm~3000nm）寬波段內光源的光譜功率分布及光度、輻射度參數。適合照明燈具產品及半導體發光器件LED產品的輻射安全分析。

性能指標：
◆  探測器：Hamamatsu PMT/InGaAs/PbS
◆  分光器：三光柵單色儀和濾光片盤的雙重分光。
◆  寬波長范圍：200nm至3000nm（其它波段可定制）
◆  波長準確度：0.2nm（紫外，可見）；0.5nm（紅外）
◆  重復性：0.1nm；
◆  采樣間隔：1nm、2nm、5nm，
◆  接口：USB2.0/RS232