光學元件三維缺陷檢測儀(ModelLS3D-2000),適用于各類光學材料的三維缺陷檢測和分析,特別是光學晶體、光學玻璃的三維缺陷檢測和分析
光學元件三維缺陷檢測儀(Model LS3D-2000),適用于各類光學材料的三維缺陷檢測和分析,特別是光學晶體、光學玻璃的三維缺陷檢測和分析。本系統是一款快速、簡便、高靈敏度檢測儀器。
1、速度快;
2、高靈敏度;
3、一鍵式全自動操作。
光學元件三維缺陷檢測儀 | |
型號 | LS3D-2000 |
缺陷檢測靈敏度 | 10 μm |
樣晶尺寸范圍 | 尺寸可訂制 |
檢測速度 | <2h@ 100 mmx 100 mmx20 mm |
設備重量 | 300kg |
注:可以根據客戶需求提供同類特制儀器和相關測試的解決方案。
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